通過可靠性試驗，可以確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或存儲時的可靠性特征量，為使用、生產(chǎn)和設計提供有用的數(shù)據(jù)；也可以暴露產(chǎn)品在設計、原材料和工藝流程等方面存在的問題。通過失效分析、質(zhì)量控制等一系列反饋措施，可使產(chǎn)品存在的問題逐步解決，提高產(chǎn)品可靠性。

　　電子產(chǎn)品的可靠性試驗類型：

　　1、按試驗項目可分為環(huán)境試驗、壽命試驗和特殊試驗；

　　2、按試驗目的可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗；

　　3、按試驗性質(zhì)可分為破壞性試驗和非破壞性試驗。

　　對于大部分電子產(chǎn)品，壽命是最主要的可靠性特征量。因此，可靠性試驗往往指的就是壽命試驗。壽命試驗可分為非工作狀態(tài)的存儲壽命試驗和工作狀態(tài)的工作壽命試驗兩類。為了縮短試驗周期、減少樣品數(shù)量和試驗費用，常常采用加速壽命試驗。而在電子產(chǎn)品加速壽命試驗中，最常用的應力為溫度和電壓。

　　對電子產(chǎn)品做可靠性檢測主要有以下幾點目的：

　　1、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價產(chǎn)品可靠性達到預定指標的情況；

　　2、生產(chǎn)階段為生產(chǎn)過程質(zhì)量監(jiān)督提供信息；

　　3、對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收；

　　4、暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及相關失效模式和失效機理；

　　5、為改進產(chǎn)品可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。